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Le système de mesure de niveau DuoSeries se compose d'un détecteur à scintillation - le détecteur ponctuel CrystalSENS ou le détecteur allongé UniSENS - et d'une électronique pour l'affichage des données et le pilotage. L’électronique est une unité de traitement dernière génération dotée d'un écran tactile TFT robuste de 3,5 pouces, d'une puissante unité centrale à double cœur et de diverses options de contrôle. Des fonctions avancées d'autodiagnostic et de surveillance garantissent la sécurité du fonctionnement du système. De plus, les opérateurs peuvent utiliser les fonctions d'enregistrement des données pour une analyse détaillée du processus, ce qui leur permet d'enregistrer les tendances et de suivre les modifications du procédé.
Mesures fiables grâce à la protection contre les interférences des rayons X (XIP)
Le système de mesure DuoSeries LB 473 de Berthold est équipé d'un dispositif exclusif de protection contre les interférences des rayons X (XIP), qui garantit une fiabilité supérieure face aux interférences des rayonnements externes. Cette technologie avancée permet d'obtenir une sortie stable, même dans des environnements difficiles où les rayonnements externes, comme lors de l'inspection de contôle de soudure ou la diaphonie des systèmes de mesure voisins, pourraient altérer la sortie.
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